软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。 产品规格:
·产品规格 ·能量分辨率0.3eV(Al-L 光谱图73eV处测试) ·获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区50-170eV ·获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区70-210eV ·分光谱仪艙安装位置: ·EPMA的WDS接口:NO.2接口(正面右侧) ·FE-SEM的WDS接口(正面左后侧) ·分光谱仪尺寸W 168mm×D 348mm ×H 683mm ·* 从接口包括CCD的距离 ·分光谱仪重量25kg ·适用机型 ·EPMA : JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200 ·SEM : JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F 产品特点:
·软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。 · · · · ·系统简介 ·开发设计的分光系统,不需移动衍射光栅或检测器(CCD)就能同时获取不同能量的谱图。而且由于能量分辨率很高,还可以采集状态分析分佈图 · · ·SXES、WDS、EDS的比较 ·各种分光方法中氮化钛样品的谱图 ·即使在WDS分析中氮化钛的谱峰也發生重叠,需要采取去卷积的数学方法处理。如下图所示,SXES具有很高的能量分辨率。 · · ·比较表 特征 | SXES | EPMA(WDS) | EDS | 分辨率 | 0.3 eV (费米边处 Al-L) | 8 eV (FWHM@Fe-K) | 120-130 eV (FWHM@Mn-K) | 化学结合状态分析 | 可以 | 可以(主要是轻元素) | 不可以 | 并行检测 | 可以 | 不可以 (但分光谱仪台数范围即可) | 可以 | 分光晶体和检测器 |
|
所有评论仅代表网友意见,与本站立场无关。