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高低温冲击循环试验箱,键盘冷热冲击测试箱

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:TSL
  • 品牌:
  • 产品类别:高低温箱
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2023-10-16 17:58:14
  • 浏览次数:6
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  • 经营模式:其他
  • 商铺产品:1124条
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  • 最近登录:2022-12-02
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产品简介

高低温冲击循环试验箱,键盘冷热冲击测试箱用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的助手,规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;

详情介绍

高低温冲击循环试验箱,键盘冷热冲击测试箱

用途:冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

键盘温度冲击试验方案

a) 测试方案:将装配好的整机放置在将温度冲击试验箱中:先在-40℃±2℃的低温环境下保持1 h,在1min内将温度切换到80℃±2℃的高温环境下并保持1h ,共做10个循环(20h),样品取出后在室温下面放置2 h以上。拆开整机将拱形薄膜从PCB板上撕掉后检查Dome有无从薄膜上脱落、测试Dome及EMI层的电阻值、并测试Dome弹片的回弹曲线。

b) 通过准则:Dome没有从拱形薄膜上脱落;Dome的阻值小于 1.0 Ω(测试方法见15.3条)、EMI层的阻值小于 2.5 Ω;按键行程(Stroke)、接触力(P1)、回弹比率(Cc)符合15.4节的要求。

高低温冲击循环试验箱,键盘冷热冲击测试箱

型 号

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

标称内容积(升)

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

+60~+200℃

升温速率※1

+60→+200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

-78-0℃

降温速率※1

+20→-75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2℃

温度范围

TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;

TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;

TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)※4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)

满足标准
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;
4、GJB150.5-86温度冲击试验;
5、GJB360.7-87温度冲击试验;
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估

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