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冷热冲击测试设备,电子电路板高低温冲击试验仪器

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:TS
  • 品牌:
  • 产品类别:高低温箱
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2023-10-16 17:05:20
  • 浏览次数:5
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其他

  • 经营模式:其他
  • 商铺产品:1124条
  • 所在地区:
  • 注册时间:2022-12-02
  • 最近登录:2022-12-02
  • 联系人:
产品简介

冷热冲击测试设备,电子电路板高低温冲击试验仪器用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度, 藉以在Z短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害.适用的对象包括金属, 塑料, 橡胶, 电子....等材料,可作为其产品改进的依据或参考。

详情介绍

冷热冲击测试设备,电子电路板高低温冲击试验仪器

宏展之一冷热冲击测试设备仪器,电子电路板行业我们客户繁多,也得到了客户的认可,多次使用,介绍朋友购买,都是给我们前进的动力。

*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;

*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制;
全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~99%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
制冷及电控关键配件均采用产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;


冷热冲击测试设备,电子电路板高低温冲击试验仪器

Bellcore
GR-1221-CORE

+70

±2

----

 

≧10min
≦15min

----

含驻留时间
&转换时间≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

 

 

 

+80

±2

 

JESD22
A104-A

+125

+10

 

-40

+0

≦15min

 

产品特点

规范要求:

a.采用铝片验证机台负载能力(非塑料负载)
b.传感器放置测试区而非风道口符合实验有效性
a.进行两箱冲击时测试区湿度符合规范要求
b.可扩充待测品表面温度控制驻留时间来缩短试验时间
c.可直接多项规范与试验条件

蓄热式冷热冲击试验箱规格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此规格◎符合此规格★可配增加此功能※可配增加LN2功能

试验规范

驻留温度(℃)
(exposure temp.)

驻留温度时间(Min)
(exposure time)

覆归时间
(recovery time)

周期
或次数

试验起
始点

备注

适用机台型号
TS-(46/80/150/252/336)

高温

室温

低温

高温/低温

室温

S

U

L

MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

0

≧10min
≦15min

----

含驻留时间&
转换时间≦15min

zui少
10次

低温或
高温

Temperature Cycling
(转换时间<1min)

实验过程若中断
超过总实验之1/10
次则实验须重做

----

0

+125

+15

----

0

-10

+150

+15

----

0

+150

+15

-65

0

.

----

0

-10

MIL-STD-202F
(Method 07G)

+83

+3

-25

+10

-55

0

28g以下
15~30 Min
28~136g
30Min
136g~1.36Kg
60Min
1.36~13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以内

5 cycle
25
50
100

低温

Transfer time
不超过5 min

0

-3

+125

+3

-65

0

----

0

-5

-5

+125

+3

-65

0

----

0

-5

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

±2

±2

±2

室温

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或无定义则
以3hr定义

手动转
移时间
2~3Min

为驻留时间
之1/10

5 cycle
除非有
其它规格

低温

Auto
Transfer time
不超过30 sec
小试件
Transfer time
不超过10 sec

 

 

 

 

----

IPC 2.6.7

+70

±2

----

0

+0

15 Min

----

2 Min 以内

100 cycle

高温
(试验结束
点在高温)

Transfer time
不超过2 min

-0

-5

+85

+5

-40

+0

-0

-5

+105

+5

-55

+0

-0

-5

+105

+5

-65

+0

----

-0

-5

+105

+5

 

 

----

-0

IPC 2.6.6

+85

+3

-25

+10

-55

+0

30 Min

10-15
Min

 

5 cycle

 

 

-0

-5

+125

+3

-5

-65

+0

----

-0

-5

*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验

保养说明:

1.在实施保养中过程中,请务必将机器之总电源及漏电断路器予以关闭

2.请确实实施各机件的定期保养,以维持机器正常运作。

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