主要特点
- 采用远方高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好
- 采用背照式高精度阵列探测器和上等衍射光栅，并采用带通色轮校正（BWCT）等多项杂散光修正砖利技术，具有的光谱测量分辨率、机低杂散光
- 高性能准直光源，保证宽波段范围的测量条件
- 自带校正及标定功能，方便用户自行校零和定标
- 独特的紫外-可见波段的双光路设计，可对光源进行监控和自动补偿，减少光源变化带来的误差
- 极宽的光谱测量范围：280nm-2500nm
主要技术指标
| 测量功能 | 可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比，及材料的光谱透射率曲线、材料的光谱反射率曲线、材料的色空间、色差等颜色参数。 |
| 波长范围 | 280nm-2500nm； |
| 波长准确度 | 280-800nm波段：±0.3nm； 800-1600波段：±0.5nm； 1600-2550波段：±3nm； |
| 半峰带宽 | 280-800nm波段：3nm； 800-1600波段：9nm； 1600-2500波段：15nm； |
| 照明/接收条件 | 反射 5°/5°，透射：0/0 |
| 反射率范围 | 0-200%，分辨率0.001% |
| 照明孔径 | Φ20mm |
所有评论仅代表网友意见，与本站立场无关。