JJG 818-2018 磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程
Aubat-FC1000检定装置:
1、标准片、校准片、标准厚度片(板)组、校准用厚度片
2、基体(磁性或非磁性)、金属与非金属基体
测量重复性、示值误差、示值稳定性。基体(磁性或非磁性):表面粗糙度Ra≤0.2 μm、平面度≤1μm、其尺寸≥1.3g;厚度片(板)组
3等量块、数显电感式测微仪:测量力1 N MPE:士0.1 um或光栅测微仪:MPE:士0.2 um平面工作台:平面度l um,许凸不允许凹
本规程适用于磁性(磁阻式和磁力式)覆层厚度测量仪和电涡流式覆层厚度测量仪/厚度仪的**检定、后续检定和使用中检查。测厚仪中的磁性覆层厚度测量仪一般用于测量磁性金属基体上的非磁性覆盖层的厚度;电涡流式覆层厚度测量仪一般用于测量非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度。测厚仪按数值显示方式可分为数字式和指针式两大类,测量范围一般为(0~1 250)μm,*大可测至 30 mm,分辨力*高可达 0.1 μm。按示值*大允许误差划分为A~D四个准确度级别。磁性覆层厚度测量仪按工作原理又可分为磁阻式和磁力式两种。磁阻式覆层厚度测量仪是通过测量测头与基体金属之间因覆盖层(电镀、喷漆等工艺形成)引起的磁路磁阻变化,得到被测覆层厚度。磁力式覆层厚度测量仪是通过测量长久磁铁(测头)与基体金属之间因覆盖层引起的磁力变化,得到被测覆层厚度。电涡流式覆层厚度测量仪是通过测量测头与基体金属之间因覆盖层引起的电涡流变化,得到被覆盖层厚度。
计量性能要求
1.测量力及其变动性
测头的测量力:(0.3~1.5)N。测量力变动性不超过3/1 F,其中F是十次测量力的平均值。此项要求不包括磁力式覆层厚度测量仪。
2.示值重复性
示值重复性不超过相应示值*大允许误差的五分之一。
3. 示值误差
仪器示值*大允许误差和相应准确度等级见表1。
4.示值稳定性
仪器示值在一小时内的变化小于该仪器示值*大允许误差的**值。
5. 电源电压变化对仪器示值的影响
仪器电源电压变化引起的仪器示值变化应满足4.3。
6. 校准用厚度片
校准用厚度片 (简称校准片)的厚度测量结果不确定度和均匀性
Aubat-FC1000检定装置:
1、标准片、校准片、标准厚度片(板)组、校准用厚度片
2、基体(磁性或非磁性)、金属与非金属基体
测量重复性、示值误差、示值稳定性。基体(磁性或非磁性):表面粗糙度Ra≤0.2 μm、平面度≤1μm、其尺寸≥1.3g;厚度片(板)组
3等量块、数显电感式测微仪:测量力1 N MPE:士0.1 um或光栅测微仪:MPE:士0.2 um平面工作台:平面度l um,许凸不允许凹
本规程适用于磁性(磁阻式和磁力式)覆层厚度测量仪和电涡流式覆层厚度测量仪/厚度仪的**检定、后续检定和使用中检查。测厚仪中的磁性覆层厚度测量仪一般用于测量磁性金属基体上的非磁性覆盖层的厚度;电涡流式覆层厚度测量仪一般用于测量非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度。测厚仪按数值显示方式可分为数字式和指针式两大类,测量范围一般为(0~1 250)μm,*大可测至 30 mm,分辨力*高可达 0.1 μm。按示值*大允许误差划分为A~D四个准确度级别。磁性覆层厚度测量仪按工作原理又可分为磁阻式和磁力式两种。磁阻式覆层厚度测量仪是通过测量测头与基体金属之间因覆盖层(电镀、喷漆等工艺形成)引起的磁路磁阻变化,得到被测覆层厚度。磁力式覆层厚度测量仪是通过测量长久磁铁(测头)与基体金属之间因覆盖层引起的磁力变化,得到被测覆层厚度。电涡流式覆层厚度测量仪是通过测量测头与基体金属之间因覆盖层引起的电涡流变化,得到被覆盖层厚度。
计量性能要求
1.测量力及其变动性
测头的测量力:(0.3~1.5)N。测量力变动性不超过3/1 F,其中F是十次测量力的平均值。此项要求不包括磁力式覆层厚度测量仪。
2.示值重复性
示值重复性不超过相应示值*大允许误差的五分之一。
3. 示值误差
仪器示值*大允许误差和相应准确度等级见表1。
4.示值稳定性
仪器示值在一小时内的变化小于该仪器示值*大允许误差的**值。
5. 电源电压变化对仪器示值的影响
仪器电源电压变化引起的仪器示值变化应满足4.3。
6. 校准用厚度片
校准用厚度片 (简称校准片)的厚度测量结果不确定度和均匀性



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