JJF1933-2021 光学轴类测量仪校准规范
校准装置：
1.标准芯轴AUBAT-XZ300S
校准：上**轴线与回转主轴的同轴度；垂直导轨移动与两**连线之间的平行度。
2.标准轴径规AUBAT-2510ZG
校准：轴径测量的示值误差；轴径测量的重复性。
3.标准轴长规AUBAT-2570CG
校准：轴长测量的示值误差；轴长测量的重复性。
JJF1933-2021光学轴类测量仪校准规范适用于轴径测量上限至150 mm、轴长测量上限至1000 mm 的光学轴类测量仪的校准。光学轴类测量仪是采用CCD和光栅测量系统进行轴径和轴长测量的仪器。一般包括回转主轴（C轴）和垂直轴（Z轴)，主要由机械主体、照明系统、CCD测量系统、控制系统和数据处理系统组成。常见光学轴类测量仪结构及测量原理。工作时，测量工件夹持在两**之间，CCD测量系统和照明光源通过测量滑架带动，沿Z轴方向移动至测量位置，测量图像通过CCD采集，数据处理系统对CCD采集的图像和光栅移动距离进行处理，得到测量工件的轴径和轴长。
计量特性
1回转主轴**的斜向圆跳动
回转主轴**的斜向圆跳动要求可参照表1。
2 上**轴线与回转主轴的同轴度
上**轴线对回转主轴的同轴度要求可参照表 。
3垂直导轨移动与两**连线之间的平行度
垂直导轨移动与两**连线之间的平行度要求可参照表。
4轴径测量的示值误差
轴径测量的*大允许误差要求可参照表。
5轴长测量的示值误差
轴长测量的*大允许误差要求可参照表 。
6轴径测量的重复性
轴径测量的重复性要求可参照表。
7轴长测量的重复性
轴长测量的重复性要求可参照表 。
序号 计量特性 推荐要求
1 回转主轴**的斜向圆跳动 一般不大于2μm
2 上**轴线与回转主轴的同轴度 一般不大于2μm/200 mm
3 垂直导轨移动与两**连线之间的平行度 一般不大于4μm/200 mm
4 轴径测量的示值误差 *大允许误差:士 （3μm+1.0×10-5d)
5 轴长测量的示值误差 *大允许误差:士(6μm+1.5×10-5l)
6 轴径测量的重复性 一般不大于0.5μm
轴长测量的重复性 一般不大于1μm
检定方法：
1.上**轴线与回转主轴的同轴度
上**轴线与回转主轴的同轴度用测微计和标准芯轴进行测量。
当仪器的轴长测量上限小于或等于 200 mm时，用一根标准芯轴，标准芯轴的长度不小于仪器轴长测量上限的70%。
当仪器的轴长测量上限大于200 mm时，用两根不同长度的标准芯轴，其中一根标准芯轴的长度为200mm，且至少有一根标准芯轴的长度不小于仪器轴长测量上限的70%。将标准芯轴安装在被校光学轴类测量仪的两**之间，把装有测微计的磁性表座安装在回转工作台上随主轴一起转动，使测头与标准芯轴上端外圆面垂直接触，转动回转主轴两周，测微计的*大示值与*小示值之差即为上**轴线与回转主轴的同轴度。
2.垂直导轨移动与两**连线之间的平行度
垂直导轨移动与两**连线之间的平行度用测微计和标准芯轴进行测量.
将标准芯轴安装在被校光学轴类测量仪的两**之间，把测微计牢固安装在测量滑架上，使测头沿光轴方向垂直接触标准芯轴的母线，测量滑架沿垂直导轨(Z轴)移动，移动距离应大于仪器轴长测量上限的70%，测微计的*大示值与*小示值之差即为垂直导轨与两**连线在该方向的平行度。将测微计位置相对标准芯轴转90°，用同样的方法，测量垂直导轨与两**连线在该方向的平行度。
3.轴径测量的示值误差
轴径测量的示值误差用标准轴径规进行测量。标准轴径规可以只有1个直径尺寸，也可以同时具有多个直径尺寸(标准轴径规或阶梯型标准轴规)。
在仪器轴径测量范围内大致均匀分布5个测量点，选取相应直径的标准轴径规依次进行测量。在仪器上读取标准轴径规规定方向上的中截面直径，重复测量3次，取3次结果的平均值作为仪器在该点的直径测得值，该值与标准轴径规的直径实际值之差即为该点轴径测量的示值误差。各点轴径测量的示值误差△d;由公式计算:△d=di-dis 式中:di一光学轴类测量仪在第i点的直径测得值;dis'第i个标准轴径规的直径实际值。
4.轴长测量的示值误差
轴长测量的示值误差用标准轴长规进行测量。标准轴长规可以只有1个长度尺寸，也可以同时具有多个长度尺寸(标准轴长规或阶梯型标准轴规)。
在仪器轴长测量范围内大致均匀分布5个测量点，选取相应长度的标准轴长规依次进行测量。在仪器上读取标准轴长规在轴线方向上两端面之间的距离，重复测量3次，取3次结果的平均值作为仪器在该点的长度测得值，该值与标准轴长规的长度实际值之差即为该点轴长测量的示值误差。各点轴长测量的示值误差△l;由公式计算:△li=Li-Lis 式中:Li;一光学轴类测量仪在第i点的长度测得值;Lis<第i个标准轴长规的长度实际值。阶梯型标准轴径规和阶梯型标准轴长规也可以作为一体结构(阶梯型标准轴规)。
校准装置：
1.标准芯轴AUBAT-XZ300S
校准：上**轴线与回转主轴的同轴度；垂直导轨移动与两**连线之间的平行度。
2.标准轴径规AUBAT-2510ZG
校准：轴径测量的示值误差；轴径测量的重复性。
3.标准轴长规AUBAT-2570CG
校准：轴长测量的示值误差；轴长测量的重复性。
JJF1933-2021光学轴类测量仪校准规范适用于轴径测量上限至150 mm、轴长测量上限至1000 mm 的光学轴类测量仪的校准。光学轴类测量仪是采用CCD和光栅测量系统进行轴径和轴长测量的仪器。一般包括回转主轴（C轴）和垂直轴（Z轴)，主要由机械主体、照明系统、CCD测量系统、控制系统和数据处理系统组成。常见光学轴类测量仪结构及测量原理。工作时，测量工件夹持在两**之间，CCD测量系统和照明光源通过测量滑架带动，沿Z轴方向移动至测量位置，测量图像通过CCD采集，数据处理系统对CCD采集的图像和光栅移动距离进行处理，得到测量工件的轴径和轴长。
计量特性
1回转主轴**的斜向圆跳动
回转主轴**的斜向圆跳动要求可参照表1。
2 上**轴线与回转主轴的同轴度
上**轴线对回转主轴的同轴度要求可参照表 。
3垂直导轨移动与两**连线之间的平行度
垂直导轨移动与两**连线之间的平行度要求可参照表。
4轴径测量的示值误差
轴径测量的*大允许误差要求可参照表。
5轴长测量的示值误差
轴长测量的*大允许误差要求可参照表 。
6轴径测量的重复性
轴径测量的重复性要求可参照表。
7轴长测量的重复性
轴长测量的重复性要求可参照表 。
序号 计量特性 推荐要求
1 回转主轴**的斜向圆跳动 一般不大于2μm
2 上**轴线与回转主轴的同轴度 一般不大于2μm/200 mm
3 垂直导轨移动与两**连线之间的平行度 一般不大于4μm/200 mm
4 轴径测量的示值误差 *大允许误差:士 （3μm+1.0×10-5d)
5 轴长测量的示值误差 *大允许误差:士(6μm+1.5×10-5l)
6 轴径测量的重复性 一般不大于0.5μm
轴长测量的重复性 一般不大于1μm
| 序号 | 计量特性 | 推荐要求 |
| 1 | 回转主轴**的斜向圆跳动 | 一般不大于2μm |
| 2 | 上**轴线与回转主轴的同轴度 | 一般不大于2μm/200 mm |
| 3 | 垂直导轨移动与两**连线之间的平行度 | 一般不大于4μm/200 mm |
| 4 | 轴径测量的示值误差 | *大允许误差:士 （3μm+1.0×10-5d) |
| 5 | 轴长测量的示值误差 | *大允许误差:士(6μm+1.5×10-5l) |
| 6 | 轴径测量的重复性 | 一般不大于0.5μm |
|
| 轴长测量的重复性 | 一般不大于1μm |
检定方法：
1.上**轴线与回转主轴的同轴度
上**轴线与回转主轴的同轴度用测微计和标准芯轴进行测量。
当仪器的轴长测量上限小于或等于 200 mm时，用一根标准芯轴，标准芯轴的长度不小于仪器轴长测量上限的70%。
当仪器的轴长测量上限大于200 mm时，用两根不同长度的标准芯轴，其中一根标准芯轴的长度为200mm，且至少有一根标准芯轴的长度不小于仪器轴长测量上限的70%。将标准芯轴安装在被校光学轴类测量仪的两**之间，把装有测微计的磁性表座安装在回转工作台上随主轴一起转动，使测头与标准芯轴上端外圆面垂直接触，转动回转主轴两周，测微计的*大示值与*小示值之差即为上**轴线与回转主轴的同轴度。
2.垂直导轨移动与两**连线之间的平行度
垂直导轨移动与两**连线之间的平行度用测微计和标准芯轴进行测量.
将标准芯轴安装在被校光学轴类测量仪的两**之间，把测微计牢固安装在测量滑架上，使测头沿光轴方向垂直接触标准芯轴的母线，测量滑架沿垂直导轨(Z轴)移动，移动距离应大于仪器轴长测量上限的70%，测微计的*大示值与*小示值之差即为垂直导轨与两**连线在该方向的平行度。将测微计位置相对标准芯轴转90°，用同样的方法，测量垂直导轨与两**连线在该方向的平行度。
3.轴径测量的示值误差
轴径测量的示值误差用标准轴径规进行测量。标准轴径规可以只有1个直径尺寸，也可以同时具有多个直径尺寸(标准轴径规或阶梯型标准轴规)。
在仪器轴径测量范围内大致均匀分布5个测量点，选取相应直径的标准轴径规依次进行测量。在仪器上读取标准轴径规规定方向上的中截面直径，重复测量3次，取3次结果的平均值作为仪器在该点的直径测得值，该值与标准轴径规的直径实际值之差即为该点轴径测量的示值误差。各点轴径测量的示值误差△d;由公式计算:△d=di-dis 式中:di一光学轴类测量仪在第i点的直径测得值;dis'第i个标准轴径规的直径实际值。
4.轴长测量的示值误差
轴长测量的示值误差用标准轴长规进行测量。标准轴长规可以只有1个长度尺寸，也可以同时具有多个长度尺寸(标准轴长规或阶梯型标准轴规)。
在仪器轴长测量范围内大致均匀分布5个测量点，选取相应长度的标准轴长规依次进行测量。在仪器上读取标准轴长规在轴线方向上两端面之间的距离，重复测量3次，取3次结果的平均值作为仪器在该点的长度测得值，该值与标准轴长规的长度实际值之差即为该点轴长测量的示值误差。各点轴长测量的示值误差△l;由公式计算:△li=Li-Lis 式中:Li;一光学轴类测量仪在第i点的长度测得值;Lis<第i个标准轴长规的长度实际值。阶梯型标准轴径规和阶梯型标准轴长规也可以作为一体结构(阶梯型标准轴规)。
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