TA610测量平台，齿条升降，立柱可以随意转动，用来测量不容易放置的工件，可提高测量精度。
TA620测量平台，丝杆升降，平台上设置V型槽，用来测量形状较小的工件，可提高测量平台。
TA630微调平台，X—Y平面转角，俯仰角。
TA631微调平台，X—Y平面转角。
TA630、631都用来较小幅度的，粗确调整被测量工件的位置，提高测量精度
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A610/620/630/631测量(微调)平台产品说明：TA610测量平台，齿条升降，立柱可以随意转动，用来测量不容易放置的工件，可提高测量精度
TA610测量平台，齿条升降，立柱可以随意转动，用来测量不容易放置的工件，可提高测量精度。
TA620测量平台，丝杆升降，平台上设置V型槽，用来测量形状较小的工件，可提高测量平台。
TA630微调平台，X—Y平面转角，俯仰角。
TA631微调平台，X—Y平面转角。
TA630、631都用来较小幅度的，粗确调整被测量工件的位置，提高测量精度
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