JVL系列光学影像测量仪
能高效地检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置，特别是精密零部件的微观检测与质量控制。本产品适用于产品开发、逆向工程、品质检测等领域，如钟表零件、电子接插件、五金冲压件、弹簧、线路板等。
JVL系列光学影像测量仪 特点：
OVM Lite简易版影像测量软件，易学易用；
高硬度、高精密、不易变形的花岗石底座及立柱，稳定、耐用；
底光和表面光采用可调式冷光源（LED），性能稳定，方便操作；
测量过程中可连续变倍，使操作更快捷；
X、Y轴均采用滑块和导轨结构，减小测量误差，保证测量精度；
具备图文报表输出功能，可以轻松地得到检测结果。
JVL系列光学影像测量仪 技术参数：
| 型号 | JVL2010 | JVL3020 |
| 量测行程(X/Y) (mm) | 200×100×100 | 300×200×200 |
| 全机尺寸（mm） | 1000×650×1650 | |
| 机台承重kg | 30 | |
| 操作方式 | 手动（可切换快速移动 | |
| 放大倍率 | 光学放大：0.7～4.5×；影像放大：28×~180× | |
| 电源要求 | 110V—220V±10% 50/60HZ | |
| 光学尺解析度 | 0.001mm | |
| 线性精度（X/Y） | (3+L/200)μm | |
| 量测精度 | X和Y轴：±2μm | |
| 重复性 | ±2μm | |
| CCD | 进口彩色（41万象素SONY sensor） | |
| 测量软件 | OVM Lite | |
| 适合环境 | 温度：20～25℃ 湿度：50%~60% | |
| 电脑配置 | 高性能主机+17寸纯平彩显 | |
JVL系列光学影像测量仪主要功能：
几何直接点取测量功能，基本几何测量，组合元素测量，形位公差评定，座标系设定，二维图形抄数， WORD、EXCEL及CAD格式输入。使用鼠标点取工件影像完成自动捕捉功能，不用移动机台就可以完成测量,操作效率远超投影仪。
JVL系列光学影像测量仪量测功能：
基本几何测量：点、线、圆、弧、角度；
组合元素测量：点、线、圆、弧、组合测量，圆心距、圆切线、两线中线、中心点、垂直距离、角平分线、两线交点；
形位误差评定：
同心度、真圆度、直线度、位置度、倾斜度；
坐标系设定：
有原始座标、座标平移、座标旋转、三点轴，针对物件的图形进行摆正,或是重设新的座标系都很方便。
基本几何测量：点、线、圆、弧、角度；
组合元素测量：点、线、圆、弧、组合测量，圆心距、圆切线、两线中线、中心点、垂直距离、角平分线、两线交点；
形位误差评定：
同心度、真圆度、直线度、位置度、倾斜度；
坐标系设定：
有原始座标、座标平移、座标旋转、三点轴，针对物件的图形进行摆正,或是重设新的座标系都很方便。
测量数据可输入通用的办公软件进行统计，如WORD、EXCEL格式，并制作成检验报表打印出来。
JVL系列光学影像测量仪注意事项：
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