XS梅特勒-托利多分析天平

XS梅特勒-托利多分析天平是专为提高称量效率而设计，体现了*的速度、可靠性和操作便利。
XS梅特勒-托利多分析天平性能特点：
采用高速单模块称量传感器（MonoBloc^HighSpeed），以zui快速度传递准确称量结果，具有良好的抗冲击、抗过载性能。
全自动校准技术（FACT）——温度漂移触发的自动内部校准，确保称量结果的准确性。
触摸显示屏（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置。
具有状态显示的外置红外感应器选件（ErgoSens），实现天平无需用手接触的操作。
内置RS232通讯接口和灵活的6种通讯接口选件（RS232、LocalCan、BTS、PS/2、Ethernet和MiniMettler），方便连接打印和电脑等外围设备。
优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求。
具有简单称量、统计称量、公式称量、计件称量、百分比称量、密度测定以及优化的动态称量等内置应用程序。
通过E-Loader软件，实现天平软件的即时更新。