AB204-S梅特勒分析天平
AB204-S梅特勒分析天平主要特点:
采用单模块传感器技术，具有紧凑而坚固的结构和良好抗过载、抗冲击性能
- 采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术（FACT），有效消除环境温度变化对称量结果精确性的影响
- 采用亮背景液晶显示屏，方便用户在不同称量环境下读取称量结果
- 金属铸铝制成的防化防撞击机架，保证天平的长期使用
- 标配机架塑料保护罩，实现天平的快速清洁
- 可拆卸防风罩设计，避免散料样品的腐蚀
- 内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备
- 具有简单称量、百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序
AB204-S技术参数:
| 可读性 |
| | 0.1mg |
| zui大称量值 | 220g |
| 重复性（s） | 0.1mg |
| 线性 | ±0.2mg |
| 秤盘尺寸（mm） | Φ80 |
| 防风罩有效高度（mm） | 237 |
| 外形尺寸（W×D×H）（mm） | 245×321×344 |
：陶株伟
号码：351186835
：（0） （0）
：86-
号码：86-
工作：zjkn17
：taozhuwei
公司：
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