日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪Smartlab SE

高自动化、多功能衍射仪, 精于形，智于心

易用、智能的全功能X射线衍射仪

多功能X 射线衍射仪装备有多种附件 ，兼具多种用 途 ，例如 ：粉 末 衍 射 、小角散 射 、残余 应 力等多 种 应用。然而，伴随着仪器附件及功能的增加 ，多功能 X射线衍射仪的易用性不断降低 。您是否确定测试人 员选择了 的测试条件 ？当进行多种复杂附件切换 的时候，1fE如何确定仪器处于 的矫正状态 ？

Smartlab SE 从如下三个方面解答了您 的疑问。 首先，仪器可以通过二维码 自动识别装载于衍射仪上的 组件，井检查相关组件是否满足用户选择的测试 。理 学智能的软件会建议操作人员 更换组件 ，以达到 的测试结果。

其次 ，理学的全自动校正操作 ，会在组件安装完 毕后启动。在实验前的自动校正 ，是确保实验数据一 致性 ，咸小实验误差 的 方法。

除此之外，全新的Sma「tlab Studio ｜｜ 软件为全新的 Smartlab SE 提供了模块化的衍射功能组件 ，包括仪 器的控制 、衍射数据的分析和生成报告等。Smartlab Studio II 软件的设计思路，源自于理学的简单易用的 设计语言。全新的 Guidance 软件确保即使是初学者 也可以通过软件的“引导"获得与同行专家一样的测试 数据。

引导用户从测试到数据分析

Smartlab Studio ｜｜ 软件包中的Guidance软件可以根 据用户希望完成的测试 ，给出仪器所需硬件配置 ，井 优化测量参数 。对于常见的测试，软件会给出 化 的仪器配置，井可以 自动化的完成测试序列。由于 Smartlab中使用了的组件识别技术 ，因此当测试 人员没有正确配置光路或附件时 ，Guidance 软件可以 告知测试人员。软件参数的优化与硬件组件的智能确 认是Smartlab系统可以胜任所有样品测试的关键 。

可以满足不同应用需求

多种光路及附件组合 ，能满足多种用户测试需求 。 简单 、快速的切换不 同的光路几何

CBO （交叉先路） 技术与光路自动调整和样品位置矫 正的结合 ，可以使用户在多种光路几何间 ，快速便捷 的切换。

支持多种附件

自动进样器 、样品旋转台、变温附件或湿度控制附件 等多种附件可供用户选择。

可满足快速和二维测量的*的探测器

Smartlab SE提供两个*的检测器 ：D/teX Ultr a 250 高速一维探测器作为标准配置 ，HyPix-400 二维 半导体阵列检 测器 作 为 升级配 置 供 用 户选 择 。 HyPix-400半导体阵列检测器不仅可以在二维模式下 使用，同时还可以切换为零维或一维模式 ，这样极大 的扩展了该检测器的应用范围。

从粉末测试到二维数据采集

根据用户的需要，整个仪器的配置可以满足常规粉末样品测试， 或者，复杂的微区或原位测试等要求 。

标准光路配置

Bragg-Brentano 聚焦光路

．粉末测试

·定量分析

．晶粒尺寸

·结晶度

切换至SAXS测量模式 理学的交叉光路 （ CBO） 技术

使用CBO光路系统

聚焦光路件平行光路 <通过CBO 转换）

· SAXS 测试 薄膜测试 聚焦光路悼会聚光路法 （CBO-E)

．粉末透射测试

聚焦光路件发散光路 （通过CBO α转换）

．高峰背比 （P/B） 的粉末测试

切换至微区测量模式HyPix-400检测器

搭载HyPix-400 的光路系统

装载有HyPix-400 二维探测器的光路

．微区测试

·原filln-situ测试

．取向测试

高分辨率，超快速 一维 X 射线探测器D/teX Ultra250 (0/1D)

D/teX Ultra250 一维探测器支持Bragg-Brentano聚焦法测试 ，并且可 以在短时间内获得广角度的粉末衍射峰形 。作为一款高性能的半导 体检测器 ，其的能量分辨率可以有效的降低在测试过程中产生 的背景噪音。D/teX Ultra250 高速探测器作为一维探测器使用时 ，可 以检测到极弱的衍射信号 ，同时，该探测器还可以像闪烁计数器一 样，作为零维探测器使用 。

半导体阵列多维探测器 HyPix-400 (OD /1D/20)

SmartLab SE搭载了*的HyPix-400半导体阵列20探测器 。如果说 D/teX Ultra 250可以胜任常规的零维和一维模式读取的话 ，那么大读 取面积的HyPix-40 0 二维探测器在收集二维衍射照片方面具有非常 大的优势，HyPix -400 二维探测器可以在极短的时间内完成晶体取 向评估及广域倒易空 间成像等多种应用。