DRE-2C导热系数测试仪（瞬态平面热源法）

DRE-2C导热系数测试仪采用瞬态平面热源法，主要测量固体、粉末、涂层、薄膜、各向异性材料等的导热系数。本仪器基于TPS瞬态平面热源技术，用Hot Disk作为探头的导热系数测定仪。Hot Disk法的优点有：(1)直接测量热传播，可以节约大量的时间；(2)不会和静态法一样受到接触热阻的影响；(3)无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面。

DRE-2C导热系数测试仪（瞬态平面热源法）主要技术指标：

1、导热系数测定范围：0.01—100W/mk

2、测量时间：1-600秒

3、准确度：优于5％

4、温度范围：标准测量：室温，（可根据客户要求选配各种温度段的测试温度，费用另计：如-20℃～120℃）

5、样本尺寸：大于15mm高，大于直径45mm相对平整的样品表面。

6、仪器参考标准：ISO 22007-2008.

7、操作方便，测试速快，仅需将测试探头夹在两块试样块中间，通过简单的软件点击操作即能获得被测试样的导热系数。

特点

1. 操作便捷、测试速度快、测量准确
2. 特别适用于现场测量
3. 对样品无特殊形状要求
4. 自动化测试软件，操作方便
5. 配试样温度控制器，可测试样不同温度下导热系数。
6. 直接测量瞬态热传播，测试时间在分秒之间，可以节约大量的时间。
7. 不会和静态法一样受到接触热阻的影响 。
8. 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面。
9. 可用于固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等热物性参数的测定。