涂层测厚仪的测量原理是什么?

　　涂层测厚仪的测量原理是什么?

　　涂层测厚仪分为电磁法测厚仪和涡流法测厚仪。

　　电磁法测厚仪是采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

　　利用磁感应原理的测厚仪 ，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。涡流法测厚仪是高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。

　　涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型：

　　1.磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。

　　2.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。

　　3.超声波测厚法：适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

　　4.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

　　5.放射测厚法：此处仪器价格非常昂贵，适用于一些特殊场合。

　　以上就是关于涂层测厚仪的测量原理的内容，本文内容由涂层测厚仪整理，本文观点与本站无关!

　　想了解更多资讯，请持续关注本站。