光学膜厚仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。
光学膜厚仪的功能：
●采用了磁性测厚方法，可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度；
●可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准；
●可采用基本校准修正法对测头系统误差进行更新修正，保证仪器在测量过程中的准确性；
●负数显示功能，保证仪器零位点校准的准确性，提高测试精度；
●操作过程有蜂鸣声提示；
●两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；
●电池电压指示：低电压提示；
●微功耗设计，在待机装态不到10微安的电流。
光学膜厚仪的特点：
A、精美整体式设计，携带方便；
B、金属测头，牢固，耐磨，更稳定；
C、人体工程学设计，操作舒适，可精准地放置于光滑、平坦的表面之上；
D、测试速度快，读数准确；
E、具有连续测试和单次测量两种测量方式；连续测试减少人为误差，让测量值更精准；
F、仪器可存贮116个测量数据；
G、四个统计功能：大小值、平均值、测量次数，按下TA键即可查阅；
H、可以连接电脑进行通信读出存贮数据进行保存或打印；
I、两种校准方式：零点校准和二点校准；
J、操作过程有蜂鸣声提示（单次测量方式）；
K、自动识别铁基和非铁基底材；
L、低电压指示；
M、手动/自动关机功能；
N、高耐冲击ABS塑料外壳制成，非常适用于油漆有粉末涂层环境。
