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光学膜厚仪的校准方式和使用注意事项

2026年02月01日 09:05:50      来源:广州贝拓科学技术有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:3

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   光学膜厚仪的校准:
  1、零位校准,将测头垂直快速压在空基体上不放开,再按住校零键ZERO键,此时会有蜂鸣声,待显示屏上显示CAL后,再提起测头,校零成功;再将仪器拿去测试工件即可。
  (如校零时没将测头压在空基体上,那么零位校准失败,将法测试,须正确校零后仪器才能正常使用)。
 
  2、两点校准
  步骤:先校准零位。
  步骤:校好零位后,根据要测量的涂层厚度,选择一片比较接近工件厚度值的膜片,把膜片放在空基体上,把测头垂直快速压下去测量,如果测出来的值与膜片有小误差,提起测头后可以通过+-按键来修正。
  [备注:因为厂家提供的基体(即铁板或铝板)的材料可能现用户工件的基体不相同,即零位不同,因此想要测量结果更时,建议用户找一块与被测工件材质相同的基体(没有涂镀层的底材)做零位校准后,再测量。]
 
  光学膜厚仪的使用注意事项:
  1、使用和检定前,请校对零位。
 
  2、电子数显部件,须防止油、水或其它液体浸入。
 
  3、测微螺杆和量面必须经常清洁,使用后可涂层防锈油。
 
  4、数显薄膜测厚仪是精密量具,应防止撞击,以免影响准确度。
 
  5、微分筒移动距离应在刻度套管的刻线范围内,超出刻线。
 
  6、薄膜测厚仪长期不使用时,应取出电池。
 
  光学膜厚仪的维护保养,除了避免机械撞击、误操作和保持仪器外表的清洁之外,主要是金属裸露表面的防锈和光学系统的光学元件的防霉、防雾维护。
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