安宇对于目前基于按很小的条件原则测量刮研平板平面度误差的仪器尚未达到可以供使用的程度，因此评定很小的条件刮研平面度误差数据主要来自对角线法或环线法的测量值，这些测量值都应该使用很小的条件原则的判别准则予以鉴别。如果与判别标准不符要进行数据处理，经过处理得出的数据，也要用判别准则进行鉴别，直至符合准则时为止。因为符合很小的条件原则的评定基面具体方位，不能在测量之前或测量当中预先得知，只能在取得数据之后进行评定，所以符合很小的条件原则的刮研平板的平面度误差值得评定过程包括鉴别和处理两个步骤。
数据处理的实质是评定基面的变换，通过基面的变换可以将已有测量值转换为符合很小的条件的刮研平板平面度误差值。
被测刮研平板平面的平面度误差是相对理想平面确定的，测量时所依据的理想平面称为测量基准，而据以评定刮研平板平面度误差的理想平面称为评定基准，两者一般不重合，而符合很小的条件的评定基准只能在测量后方可确定其方位，只有找到这个方位才可以求得刮研平板平面度误差值。
基面变换是当使用判别准则判别已有数值的评定面不符合很小的条件原则的要求时，需要变换已有的评定基面，使各测点相对于变换后的评定基面的数值符合判别准则的要求，获得符合很小的条件要求的平面度误差值。
因此，基面变换的功用是改变基准平面相对于被测平面的位置，找到符合很小的条件的评定基面、确定平面度误差值。
综上是安宇对于
刮研平板的基面变换的简单介绍，我公司生产的产品都是有很好的售后服务，有什么问题可以找我公司技术人员为您解答。
