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激光测厚仪的测量模式简介

2025年12月25日 09:05:02      来源:深圳市大成精密设备股份有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:28

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激光测厚仪使用进口超高速高精度CMOS激光位移传感器,固定在C型架端部进行非接触对射式测量。

在生产过程中,大理石C型架带动激光探头来回扫描,扫描过程中不断采集膜片厚度数据,采样率为50kHz。每次扫描可采集数万组数据,经过算法分析滤除电磁干扰及厚度异常数据(如涂布间隙的箔材、胶带或其他超薄超厚数据),然后分成若干分区显示。同时通过EWMA算法和MA算法计算出膜片的横向与纵向厚度趋势,以线性图或柱状图的形式显示出来。还可以显示出膜片整体厚度的3D图像,并把扫描的厚度数据会保存成CSV表格。

在扫描过程中,每若干周期会扫描校准片进行一次自校准(自校准的频率可调,一般扫描8趟或更多自校准一次),保证设备长期稳定运行。

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