本期我们和大家一起讨论多模光纤测试中一个特殊的要求，环通量EF。

在上图中，自上而下，分别是LED光源、VCSEL垂直腔表面发射激光以及激光光源。我们理想的光源当然是平行光入射，没有入射角的，但除了激光光源外，很难实现没有入射角的投射方式，然而事实上激光光源也是有入射角，只是非常小，可以忽略。
我们来看LED入射方式，它其实是通过满注入的方式投射到光纤，我们知道多模光纤孔径是62.5微米或者50微米，当LED投射到光纤端面，如果把投射面看作一个射击靶盘，那么满注入相当于光源投射在直径为100微米的靶盘内，而VCSEL光源相当于投射的直径为35微米的靶盘内，激光光源投射的是直径为10微米的靶盘内。

也就是说，不同光源会导致不同靶盘面积，这个我们可以把它看作入射光的通过量。日常使用时，我们连接光纤时，由于对位不齐，很容易造成极小偏芯的情况，这使得采用LED光源做测试时，会带来很大的不确定度，严重的可以导致50%以上不确定度，因此国际标准ISO11801和TIA568.3-D以及国标GB50312中都增加了对测试仪表光源发光的EF环通量的要求，即将靶盘有效区域控制在一定区域内，一般控制在直径45微米以内的区域内，这样测试的不确定性能够降至10%以内。

在上图中我们可以看到，要实现稳定的EF光环通量，不仅需要支持EF-LED的优化光源，也需要加入支持EF环通量的光纤测试跳线，我们一般把它称作EF饼干跳线，通过EF调节后，使得光纤输出末端的光能量集中在半径是22μm~25μm的靶心区域。