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苏州佳谱仪器JPSPEC EDX 8000H真空型X荧光光谱仪介绍

2025年07月14日 13:19:00      来源:佳谱仪器(苏州)有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:10

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佳谱仪器 EDX 8000H真空型X荧光光谱仪介绍

佳谱仪器JPSPEC 佳谱仪器JPSPEC 2022-04-21

EDX 8000H


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佳谱仪器(苏州)有限公司

“优秀品质、国产价格、贴身服务”是佳谱仪器对广大用户的坚守承诺,赢得用户的认可和信赖是我们持之以恒坚持的事情。




应用领域

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矿石分析、合金检测、有害元素检测(RoHS、卤素)、全元素分析、镀层测厚分析等。X 射线荧光光谱仪分析具有制样简单、分析速度快、分析含量范围宽、重现性好、准确度高等优点,随着 X 射线荧光光谱分析技术的不断推广,利用 X 射线荧光光谱仪分析仪检测已成为很多行业质量控制的主要手段。






性能介绍

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01

技术参数


元素分析范围 : 钠(Na)~ 铀(U)

分析元素含量范围 :PPM~99.99%(不同材质,分析范围不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

环境温度 :15-30℃

同时分析元素 : 一次可同时分析几十种元素

测试时间 :50-200s

电源 : 交流 220V±5v,建议配置交流净化稳压电源

能量分辨率 :129±5eV

样品腔尺寸 :400*340*80mm

仪器尺寸:700*510*336mm

仪器重量:56kg

分析精度:0.05%(含量高于 96% 以上的精品,21 次测试稳定性)

高真空系统、高分辨率SDD硅漂移数字多道型电制冷探测器


02

性能优势


下照式:可满足各种形状和状态的样品测试需求,固体、液体、粉末都可进行快速无损检测

高分辨率电子制冷探测器:良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,数字多道技术,测试速度更快,测试精度更高

新一代高压电源和 X 光管:高效超薄窗 X 光管,指标达到水平,低能 X 射线激发待测样品,对铝硅、磷等轻元素激发效果更好

智能抽真空系统:屏蔽空气的影响,大幅扩展仪器测试范围


分析方法



01

有损分析光谱法

AAS、ICP、AFS 在前处理方面跟化学滴定法相差不多,都必须把样品制成溶液,其对微量元素分析精度高,要求分析测试人员素质高专业性强、测试时间短、人为误差少等特点。用于实验室环境条件下。

02

无损分析光谱法

X 荧光法应用于材料分析的特点也很明显,分析速度快、前处理简单,样品无损、人为误差小、分析范围广、检出限达到ppm 级等的特点,可以测液体、固体和粉末样品。
















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