冲击试样缺口新突破

概述

冲击试验将冲击试验缺口的尺寸要求非常严格，微小的变化，都会引起试验结果出现误差，为了确保将冲击试验缺口制样合格，缺口检验尤其重要，也是目前主要的检测方法，目前市面上大多用于光学放大镜，模板对比的方式，通过投影，将试样投影到模板上，再通过人工调节，对比，判断边缘来确定缺口是否合格，这种方式弊端很多，1、光，采用的传统卤素灯照明，光照不是平行光，这样会对试样造成不必要的阴影，这样会影像人为的判断，使测量结果出现偏差，尤其是再遇到合格与否的试样，更难以保证测量结果的准确性。2、人为判断缺口边缘，每个人判断的方式都有差异，100个人检测会出现100个结果，这样检测结果人为因素很严重。3、效率慢，试样摆放要通过人为去调整，试样测量时必须呈水平，否则影像测量结果，前后左右上下的调整，使测量费时、费力效率低。4、测量结果只能是大概，通过人为判断，结果不能保存起来，不变以后对试样的复查，尤其是仲裁时，无法提供检测数据以及说明。

例如对夏比冲击V型缺口试样来说，GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分：试验方法》中要求，V型缺口深度2mm加工偏差范围是±0.075，缺口角度为45°加工偏差为±2°，缺口底部半径0.25mm加工偏差为0.025mm这样的偏差范围用肉眼去判断是很难做到了，肉眼判断0.1mm的误差都非常吃力，更不用说0.025等误差了。美标更严格。

TOP-AMIG一键冲击缺口测量分析仪，是我公司根据广大用户的实际需求盒按照GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分：试验方法》、ASTM E23，新研发的与夏比V型U型缺口加工检验的设备“一键冲击缺口测量分析仪”测量缺口只需2部就可以完成，步：将试样放到试样台上（测量视场范围内），第二部：点击测量按钮，测量结果瞬间得出。

原理

该测量仪利用光学拍摄的方法，将冲击试验V型U型缺口全貌采集到显示器上，本测量仪采用的千万像素相机及镜头以及机器视觉的平行光源，对试样垂直照射，不会对试样造成任何阴影，使缺轮廓清晰的显示出来，通过离析像素技术，准确自动判定缺口边缘，对缺口测量。

特点

该测量仪，利用光学图像技术将被测冲击试样V型U型缺口通过千万像素的相机及镜头，将图像采集到显示器上，再通过我公司软件的离析像素金属测量缺口尺寸。

测量缺口尺寸只需2部完成，部，将试样放到试样台上，第二部点击测量按钮进行测量，瞬间得出数据。主要的是试样的摆放无需水平、垂直，只要将被测部分放到视场范围内，随意摆放均可。离析像素技术自动判断，没有任何人为因素，100个人测量得出的结果只有1中。

技术参数

测量视场：10*10mm

测量精度：0.01mm

测量分辨率：0.001mm

工作台尺寸：100*100

光源：机器视觉平行光源

相机及镜头：1000万像素

测量方式：一件测量