烘焙的质地纹理-C-Cell孔隙(成像)分析仪

  在烘焙领域中使用质构仪进行质量分析已有完善的基础，如全质构分析(Texture Profile Analysis)、AACC与AIB测试标准等，然而有部份质地单靠质构仪无法完整表达优劣与了解原因，如吐司的绵密与软弹关联，想要知道内部的质地纹理就需要搭配C-Cell孔隙(成像)分析仪来了解孔隙的大小、形状与走向，以更好的体会配方与工艺带来的改变。

      C-Cell孔隙(成像)分析仪是一种以高分辨率拍摄产品切片，并利用影像、光影、色差来进行切面分析的仪器，可以得到产品孔隙大小形状分布、粗糙度、均匀度与对比度等外观参数。目前C-Cell已经通过AACCi Method   10-18.01，被认证是观测面包品质的一个重要指标，在面包、蛋糕、披萨等等食品领域广泛应用，可以用于配方控制、产品评估、工艺发展等等，如在烘焙品中质地受面筋蛋白影响，在制作过程中会有许多不可控制的随机结构，然而在工厂的生产中，产品的均一性是非常重要的，因此往往会用特殊工艺来降低随机性(如面团多次擀卷)，而C-Cell可以藉由成品差异对产线工艺或原料配方进行修正以确保产品的一致性。