CSL-Ⅱ试块:可利用A孔测定70°探头的灵敏度余量.也可用A、B孔校正横波的探测范围和时基线.试块中的φ 横通孔可作为检验仪器的近区探测能力。
CSL-Ⅲ试块:主要利用φ平底孔对37°探头灵敏度余量的测定
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CSL-Ⅱ试块:可利用A孔测定70°探头的灵敏度余量.也可用A、B孔校正横波的探测范围和时基线.试块中的φ2.5 横通孔可作为检验仪器的近区探测能力
CSL-Ⅱ试块:可利用A孔测定70°探头的灵敏度余量.也可用A、B孔校正横波的探测范围和时基线.试块中的φ 横通孔可作为检验仪器的近区探测能力。
CSL-Ⅲ试块:主要利用φ平底孔对37°探头灵敏度余量的测定
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