冷热冲击箱 产品用途： H-TS系列冷热冲击试验箱可以用于电工电子元器件及其他产品整机、组件、零部件及材料的环境模拟、可靠性测试及应力筛选试验。试验箱可以提供固定不动的试验空间，在试件允许上下限温度间内进行温度急剧变化的冷热冲击试验。产品技术参数：11.1工作室尺寸W 500H 400D 400 mm内容积约80L1.2外形尺寸约W 1600H 1650D 1500 mm，不含铰链、测试孔等突出部分。2冲击范围-40℃～+150℃恢复时间5min转换时间10s暴露时间30min负载5kg塑胶负载温度均匀度2℃温度波动度0.5℃温度偏差2℃3预冷预热高温室预热温度范围：+60℃～+200℃低温室预冷温度范围：0℃～-65℃低温运行试验箱与低温箱连通用于低温试验时的指标：温度范围：-65℃～25℃；升降温速率：平均2℃/min（空载）4总功率总功率约：22KW，使用电流35A5噪音75dB（A），距离箱体正前方一米远处距地面一米高时测量。6重量约1000kg制造和验收相关标准：1满足试验方法GB/T 2423.1-2008试验A：低温试验方法GB/T 2423.2-2008试验B：高温试验方法GB/T......