奥本精密公司生产的计量平面平晶是以光波干涉原理为基础，计量平面平晶利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差程度。
| 订货号 | 奥本精工计量平面平晶（单面） | ||||||
| Aubat30p | 单平面平晶 | φ45*15 | 平面度＜0.1μm | ||||
| Aubat31p | 单平面平晶 | φ45*15 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat32p | 单平面平晶 | φ50*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat33p | 单平面平晶 | φ50*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat34p | 单平面平晶 | φ60*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat35p | 单平面平晶 | φ75*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat36p | 单平面平晶 | φ80*20 | 平面度0.05μm | ||||
| Aubat37p | 单平面平晶 | φ120*25 | 平面度0.05μm | ||||
| Aubat38p | 单平面平晶 | φ150*30 | 平面度0.05μm | ||||
| Aubat39p | 单平面平晶 | φ200*40 | 平面度0.08μm | ||||
| Aubat40p | 单平面平晶 | φ250*45 | 平面度0.1μm | ||||
| Aubat41p | 单平面平晶 | φ300*50 | 平面度0.15μm | ||||
| Aubat42p | 单平面平晶 | φ500*70 | 平面度0.35μm | ||||
| 订货号 | 奥本精工计量平面平晶（双面） | ||||||
| Aubat40p | 双平面平晶 | φ45*15 | 平面度＜0.1μm | ||||
| Aubat41p | 双平面平晶 | φ45*15 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat42p | 双平面平晶 | φ50*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat43p | 双平面平晶 | φ60*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat44p | 双平面平晶 | φ75*20 | 平面度0.03μm | ||||
奥本精工欢迎来电来邮咨询选购计量平面平晶 /
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