奥本精密工业AUBAT-116检定装置适用于采用结构光测量原理,包括投影光栅式、手持激光线扫描式等类型的三维轮廓光学扫描测量仪的校准光学三维测量系统vdi/vde2634 基于区域扫描的光学系统、多视角系统奥本aubat采用标准球作为标准器具,各测量点与*小二乘拟合球球心之间径向距离的变化范围,拟合球常由自由半径*小二乘法计算得到 形状探测误差,尺寸探测误差 ,球心距离测量误差 ,坐标测量误差,端面长度测量误差
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JJF(**)116-2016三维轮廓光学扫描测量仪校准检定装置奥本AUBAT-matt系列 奥本精密工业AUBAT-116检定装置适用于采用结构光测量原理
奥本精密工业AUBAT-116检定装置适用于采用结构光测量原理,包括投影光栅式、手持激光线扫描式等类型的三维轮廓光学扫描测量仪的校准光学三维测量系统vdi/vde2634 基于区域扫描的光学系统、多视角系统奥本aubat采用标准球作为标准器具,各测量点与*小二乘拟合球球心之间径向距离的变化范围,拟合球常由自由半径*小二乘法计算得到 形状探测误差,尺寸探测误差 ,球心距离测量误差 ,坐标测量误差,端面长度测量误差
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