一、差热分析仪相关简介：
差热分析（DTA）是在程序控制温度下，测量物质和参比的温度差和温度关系的一种技术。当试样发生任何物理或化学变化时，所释放或吸收的热量使试样温度高于或低于参比物的温度，从而相应地在差热区线上可得到放热或吸热峰。差热曲线（DTA）是由差热分析得到的记录曲线。曲线的纵坐标为试样与参比物的温度差（△T），向上表示放热反应，向下表示吸热反应。差热分析也可以测定试样的热容变化，它在差热线上发映出基线的偏离。
二、差热分析仪技术指标：
1. 温度范围: 室温~1000℃
2. 量程范围: 0～±2000μV
3. DTA精度: ±0.1μV
4. 升温速率: 1～80℃/min
5. 温度分辨率: 0.1℃
6. 温度zhunque度: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.1℃
8. 温度控制: 升温：程序控制 可根据需要进行参数的调整
降温：风冷程序控制 可选配半导体冷却系统、液氮冷却系统等
恒温：程序控制 恒温时间任意设定
9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
10.气氛控制: （选配）气体流量计，气氛转换装置
11.数据接口: RS-232串口通讯 配套数据线和操作软件
12.主机显示: 汉字大屏液晶显示蓝底白字
13.参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正
14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15.工作电源: AC 220V 50Hz
2. 量程范围: 0～±2000μV
3. DTA精度: ±0.1μV
4. 升温速率: 1～80℃/min
5. 温度分辨率: 0.1℃
6. 温度zhunque度: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.1℃
8. 温度控制: 升温：程序控制 可根据需要进行参数的调整
降温：风冷程序控制 可选配半导体冷却系统、液氮冷却系统等
恒温：程序控制 恒温时间任意设定
9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
10.气氛控制: （选配）气体流量计，气氛转换装置
11.数据接口: RS-232串口通讯 配套数据线和操作软件
12.主机显示: 汉字大屏液晶显示蓝底白字
13.参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正
14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15.工作电源: AC 220V 50Hz
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公司名称：北京华测试验仪器有限公司
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