专业销售聚焦型扫描X-射线荧光能谱仪(XRF)

• 整机外观和硬件都进行重新设计,使定位更加准确,在探测器上加入了的SDD检测器,和的Poly capilary毛细管聚焦,比以往的强度提高数十倍,采用了新的激光聚焦弥补了以往光学聚焦对表面光滑样品聚焦慢的问题,以及增大了样品仓的使用空间.

• 技术参数

• 1.微聚焦X光管功率50kV,50W, 1.0mA
  2.试样上X光聚焦点直径300um、100um、30um、20um及连续可变 
  3.自动发射束滤波系统(包括全开、关闭和6个滤片，共8个位置)
  4.10x及100x(300x)彩色CCD摄像头
  5.样品室尺寸标准型:直径360mm,高310mm(大样品室型为700x700x700mm)
  6.自动样品台行程100x100x100mm(大样品室型为300x300x100mm)
  7. 标准精度计算机控制的XYZ样品台
  8.样品台载重量: 5Kg,10Kg(大样品室)
  9.可以在真空下或大气压下进行检测
  10.可以进行单点或给定多点的自动分析
  11.可以进行单视域或多视域组合的元素分布分析(面扫描与线扫描)
  12.可以进行超越单视域的元素分布分析(在组合视域中选择单幅元素分布分析范围)
  
  选购件：
  ? Mo靶的X-光管(50kV，50W)
  ? 替代300 µm单级毛细管的100 µm单级毛细管
  ? 与单级毛细管光学相关联的自动准直器(1 mm和2 mm)；由软件控制选择。
  ? Apollo 40 mm² 硅漂移检测器
  ? 软件：谱分布图，图像处理软件，线扫描，涂镀层分析，谱匹配，合金分析以及用于数据处理的离线式谱仪软件。

• 主要特点

• 1.样品范围宽:液体,磁性,绝缘体,少量粉末等。
  2.样品尺寸大：块状样品可达270x270x100mm(大样品室型则更大)。
  3.焦点小，可进行点、线、面的分布分析。
  4.能量利用率高，X光管功率小，维护简便。
  5.无损检测，使用方便，自动化程度高。
  6.工作距离长。便于进行非平坦样品的分析。
  7.可应用于材料研究、生物医学、司法鉴定、文物保护与鉴定、环境保护等多领域。
  8.丰富的软件不仅满足定性、定量和元素分布分析，还可以进行涂镀层厚度、合金分析、检索与分类分析以及RoHS、WEEE的检测等。

• 仪器介绍

• 新一代Orbis聚焦型扫描X-射线荧光能谱仪也称荧光探针，采用聚焦X射线照射，光路系统采用正置式，可在大气压力或低真空环境下检测样品。该仪器可进行视频图象采集和图象拼接，微区及整体成分的定性定量分析，以及线、面元素的分布分析，检测极限为ppm级。

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