LS 13320激光粒度分析仪 为一款为国际推崇的高分辨率粒度分析仪。采用蜚声业界PIDS多波长偏振光技术极大提高了粒度仪在亚微米尺度(纳米尺度)的分辨率,是同类产品中的“法拉利"。
利用PIDS技术真正能分析多重成份、纳米颗粒的粒径,多波长的新一代粒度仪较传统的单一波长(辅助蓝光等)具有更高的分辨率。测量下限真正达到17纳米,而非采用虚拟的下限标称(无实际数据)。
利用PIDS技术真正能分析多重成份、纳米颗粒的粒径,多波长的新一代粒度仪较传统的单一波长(辅助蓝光等)具有更高的分辨率。测量下限真正达到17纳米,而非采用虚拟的下限标称(无实际数据)。
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