美国CID CI-710植物叶片光谱仪
CI-700系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱；通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化；直观的光谱图像和现场数据存储,为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段。

仪器特性
◆非常便携，适合于室内或野外使用
◆非破坏性精密地测量叶片在400~1000nm波长范围内的反射率、透射率和吸收率
◆扫描速度快，灵敏度高
◆USB接口连接UMPC数据处理终端
◆样品类型，叶片或扁平的物体

技术参数
◆测量方式：非破坏性测量叶片
◆测量光谱：叶片透射、吸收和反射光谱
◆样品类型：叶片或扁平的物体
◆检测器：CCD线性阵列探测器
◆扫描波长范围：400～1000 nm
◆采样速度：3.8ms-10s
◆光偏离：＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
◆分辨率：0.3～10.0nmFWHM
◆采样直径：7.6 mm
◆线性修正：>99.8%
◆*配有CI-700LP叶夹
◆尺寸：89.1 x 63.3 x 34.4 cm
◆*重量：290G

仪器配置
光谱探测器、CI-700LP叶夹、光纤、UMPC数据终端、光谱分析软件、说明书、便携式仪器箱

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