检测样品图
光源: CFP-100-W
用平行面光从背面照射,溢胶部分不透光,显示黑色
光源: CCP-50-B
同轴平行光源光路平行,对于芯片反光度高的,划痕特征明显,消除背景干扰,对比明显
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检测样品图
光源: CFP-100-W
用平行面光从背面照射,溢胶部分不透光,显示黑色
光源: CCP-50-B
同轴平行光源光路平行,对于芯片反光度高的,划痕特征明显,消除背景干扰,对比明显
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