特性：
1、检出限低、重复精度高，以及测量适用性广，因此特别适用于研究和开发使用
2、配备真空测量室和高性能硅漂移探测器，能够实现准确测量，尤其是对轻元素的测试
3、通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试
4、准直器和滤波器可切换，因此可适用于各种材料和测试条件
应用：
涂层厚度测量
1、原子序数从Na（11）开始的轻元素镀层，可测量厚度低至纳米级
2、铝镀层和硅镀层
材料分析
1、测定宝石的真伪与原产地
2、常规材料分析和取证
3、高分辨率恒量分析
宁波旗辰仪器有限公司
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简单介绍 本公司提供的XUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na（11）开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线，因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此，该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。
特性：
1、检出限低、重复精度高，以及测量适用性广，因此特别适用于研究和开发使用
2、配备真空测量室和高性能硅漂移探测器，能够实现准确测量，尤其是对轻元素的测试
3、通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试
4、准直器和滤波器可切换，因此可适用于各种材料和测试条件
应用：
涂层厚度测量
1、原子序数从Na（11）开始的轻元素镀层，可测量厚度低至纳米级
2、铝镀层和硅镀层
材料分析
1、测定宝石的真伪与原产地
2、常规材料分析和取证
3、高分辨率恒量分析
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